三星否认其HBM内存芯片未通过英伟达测试
发布时间:2024-05-27 15:03:00 阅读量:2512
之前有报道称,三星电子最新的高带宽内存(HBM)芯片尚未通过英伟达的测试,因存在发热和功耗问题而受到影响。
不过据韩媒 Business Korea 报道,三星电子发布声明否认了相关报道,该公司声称他们正在与多家全球合作伙伴“顺利进行 HBM 芯片测试过程”,同时强调“他们正与其他商业伙伴持续合作,以确保产品质量和可靠性”。
_20240527163227_750.jpg)
三星最近开始批量生产其第五代 HBM 芯片 ——24GB(8-Hi)/ 36GB(12-Hi)的 HBM3E 产品。在目前已量产的 HBM3E 上,三星并未像竞争对手 SK 海力士、美光那样采用 1b nm 制程 DRAM 裸片,而是仍使用 1a nm 颗粒,在能耗方面处于劣势。加上本次出现的相关负面舆论,这导致一些分析师怀疑三星“是否有能力从 SK 海力士处迅速夺回市场份额”。
相关文章阅读
-
三星计划到2030年推出1000层3D NAND新材料
2024-05-29
-
三星完成开发首款可穿戴机器人Bot Fit,计划Q3上市
2024-05-27
-
三星投资提升3纳米工艺以争夺英伟达订单
2024-05-23
-
三星、SK海力士对通用存储芯片增产持保守态度
2024-05-22
-
消息称三星HBM3E芯片未通过英伟达验证
2024-05-17
-
三星、SK海力士将停供DDR3 或致价格飙涨
2024-05-13
-
官宣!三星3nm移动应用处理器实现首次流片
2024-05-08
-
三星启动其首批第九代 V-NAND 闪存量产
2024-04-25
热门分类
推荐产品
- STM32F405RGT6 ST
- HMC433ETR ADI
- LMX2594RHAR TI(德州仪器)
- ADUM4160BRWZ-RL ADI
- TPS82130SILR TEXAS INSTRUMENTS
- MT40A512M16LY-062E:E
- STM32F103CBT6 ST
- TPS7A3901DSCR TI
- FT232RL-REEL FTDI
- INA180A3QDBVRQ1 TI
- 74HC157D,653 Nexperia
- RT0805BRD071K21L Yageo(国巨)
- TLV62569DRLR TI(德州仪器)
- HDC3022QDEJRQ1 TI
- SPX3819M5-L-3-3/TR MaxLinear
- ULN2003D1013TR STMICROELECTRONICS
- ECMF02-2HSMX6 STMicroelectronics
- HMC433ETR ADI(亚德诺)
- PRG18BB330MB1RB Murata
- LMKDB1120Z100NPPR TI
资讯排行榜
关注我们